七海测量复合式影像测量对微小尺寸实现高精度检测
随着光学影像测量仪及自动化智能技术的进步，七海测量不断突破传统限制，致力更高精度，不断在各个领域拓展新影像测量方案。
近年来，随着大国之间竞争激烈，各国在半导体行业加大投入研发，抢占市场份额。在此背景下，各企业在半导体芯片封装领域加大研发，对微小尺寸检测领域需求提出了苛刻要求，
现有检测设备精度已无法满足。急需超高精度大行程光学测量方案解决微小尺寸的高精度测量需求。七海测量通过Optiv Reference 10103高精度影像测量仪解决客户微小尺寸测量需求，助力客户在该产业领域的研发实力。
前期验证阶段，Optiv团队协调国内资源，对客户调研产品进行大量的测试。首先使用客户深圳工厂的一台Optiv Advantage 443HA影像测量仪（E1=0.5+L/900μm ；E2=1.0+L/700μm）进行测试，通过客户现有的这台设备在成像效果和测量精度上都无法满足需求，客户建议我们提供更高精度的影像测量仪进行测试，提出了更高的要求。这基于对影像产品团队的信任，同时也是对我们团队的一次考验。
这一切都变得复杂，如何更快解决客户难点?七海测量影像团队深知要改变测量战略，采用更高配置的复合式影像测量仪，完成高精度测量。下期为您带来具体解决方案。
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